{"id":113145,"date":"2021-09-03T00:21:00","date_gmt":"2021-09-02T23:21:00","guid":{"rendered":"https:\/\/material-properties.org\/que-es-el-par-de-agujeros-de-electrones-en-semiconductores-definicion\/"},"modified":"2021-09-03T00:21:00","modified_gmt":"2021-09-02T23:21:00","slug":"que-es-el-par-de-agujeros-de-electrones-en-semiconductores-definicion","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/material-properties.org\/es\/que-es-el-par-de-agujeros-de-electrones-en-semiconductores-definicion\/","title":{"rendered":"\u00bfQu\u00e9 es el par de agujeros de electrones en semiconductores? Definici\u00f3n"},"content":{"rendered":"<p><span><div class=\"su-quote su-quote-style-default\"><div class=\"su-quote-inner su-u-clearfix su-u-trim\"> En el semiconductor, los portadores de carga libres son electrones y huecos de electrones (par electr\u00f3n-hueco).\u00a0Los electrones y los huecos se crean por excitaci\u00f3n de electrones.\u00a0Propiedades del material <\/div><\/div><\/span><\/p>\n<p><span><div class=\"su-divider su-divider-style-dotted\" style=\"margin:15px 0;border-width:2px;border-color:#999999\"><\/div><\/span><\/p>\n<p><span><div  class=\"lgc-column lgc-grid-parent lgc-grid-100 lgc-tablet-grid-100 lgc-mobile-grid-100 lgc-equal-heights \"><div  class=\"inside-grid-column\">\n<p><strong><a href=\"https:\/\/material-properties.org\/wp-content\/uploads\/2019\/05\/extrinsic-doped-semiconductor-p-type-acceptor.png\"><img decoding=\"async\" loading=\"lazy\" class=\"alignright wp-image-26108\" src=\"https:\/\/material-properties.org\/wp-content\/uploads\/2019\/05\/extrinsic-doped-semiconductor-p-type-acceptor.png\" alt=\"extr\u00ednseco - semiconductor dopado - tipo p - aceptor\" width=\"569\" height=\"392\" \/><\/a><\/strong><span>En el semiconductor,\u00a0<\/span><strong><span>los portadores de carga libres<\/span><\/strong><span>\u00a0son\u00a0<\/span><strong><span>electrones<\/span><\/strong><span>\u00a0y\u00a0<\/span><strong><span>huecos de<\/span><\/strong><span>\u00a0electrones (pares de electrones-huecos).\u00a0Los electrones y huecos se crean por\u00a0<\/span><strong><span>excitaci\u00f3n de electrones<\/span><\/strong><span>\u00a0desde la banda de valencia a la banda de conducci\u00f3n.\u00a0Un agujero de electrones (a menudo llamado simplemente agujero) es la falta de un electr\u00f3n en una posici\u00f3n en la que podr\u00eda existir en un\u00a0<\/span><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/atomic-nuclear-physics\/atom-properties-of-atoms\/\"><span>\u00e1tomo.<\/span><\/a><span>o red at\u00f3mica.\u00a0Es uno de los dos tipos de portadores de carga que se encargan de crear corriente el\u00e9ctrica en materiales semiconductores.\u00a0Dado que en un \u00e1tomo normal o una red cristalina la carga negativa de los electrones se equilibra con la carga positiva de los n\u00facleos at\u00f3micos, la ausencia de un electr\u00f3n deja una carga neta positiva en la ubicaci\u00f3n del agujero.\u00a0Los agujeros cargados positivamente pueden moverse de un \u00e1tomo a otro en materiales semiconductores cuando los electrones abandonan sus posiciones.\u00a0Cuando un electr\u00f3n se encuentra con un agujero, se recombinan y estos portadores libres desaparecen efectivamente.\u00a0La recombinaci\u00f3n significa que un electr\u00f3n que ha sido excitado desde la banda de valencia a la banda de conducci\u00f3n vuelve al estado vac\u00edo en la banda de valencia, conocido como los huecos.<\/span><\/p>\n<p><span>La conductividad de un semiconductor se puede modelar en t\u00e9rminos de la\u00a0<\/span><strong><span>teor\u00eda de bandas de los s\u00f3lidos<\/span><\/strong><span>\u00a0.\u00a0El modelo de banda de un semiconductor sugiere que a temperaturas ordinarias existe una posibilidad finita de que los electrones puedan alcanzar la banda de conducci\u00f3n y contribuir a la conducci\u00f3n el\u00e9ctrica.\u00a0En el semiconductor, los portadores de carga libre (\u00a0<\/span><strong><span>pares de electrones y huecos<\/span><\/strong><span>\u00a0) se crean mediante la excitaci\u00f3n del electr\u00f3n desde la banda de valencia a la banda de conducci\u00f3n.\u00a0Esta excitaci\u00f3n dej\u00f3 un hueco en la banda de valencia que se comporta como carga positiva y se crea un par electr\u00f3n-hueco.\u00a0Los agujeros a veces pueden ser confusos, ya que no son part\u00edculas f\u00edsicas de la forma en que lo son los electrones, sino que son la ausencia de un electr\u00f3n en un \u00e1tomo.\u00a0<\/span><strong><span>Los agujeros pueden moverse de un \u00e1tomo a otro.<\/span><\/strong><span>\u00a0en materiales semiconductores cuando los electrones abandonan sus posiciones.<\/span><\/p>\n<h2><span>Excitaci\u00f3n electr\u00f3nica en semiconductores<\/span><\/h2>\n<p><strong><span>La energ\u00eda para la excitaci\u00f3n<\/span><\/strong><span>\u00a0se puede obtener de diferentes formas.<\/span><\/p>\n<h3><span>Excitaci\u00f3n t\u00e9rmica<\/span><\/h3>\n<p><span>Los pares de agujeros de electrones tambi\u00e9n se generan constantemente a partir de energ\u00eda t\u00e9rmica, en ausencia de cualquier fuente de energ\u00eda externa.\u00a0La excitaci\u00f3n t\u00e9rmica no requiere ninguna otra forma de impulso de arranque.\u00a0Este fen\u00f3meno ocurre tambi\u00e9n a temperatura ambiente.\u00a0Es causada por impurezas, irregularidades en la estructura reticular o por dopantes.\u00a0Depende en gran medida de la\u00a0<\/span><sub><span>brecha<\/span><\/sub><span>\u00a0E\u00a0(una distancia entre la valencia y la banda de conducci\u00f3n), de modo que para una\u00a0<sub>brecha<\/sub>\u00a0E m\u00e1s baja<\/span><span>aumenta un n\u00famero de portadores de carga excitados t\u00e9rmicamente.\u00a0Dado que la excitaci\u00f3n t\u00e9rmica produce el ruido del detector, se requiere enfriamiento activo para algunos tipos de semiconductores (por ejemplo, germanio).\u00a0Los detectores basados \u200b\u200ben silicio tienen un ruido suficientemente bajo incluso a temperatura ambiente.\u00a0Esto se debe a la gran banda prohibida del silicio (Egap = 1,12 eV), que nos permite operar el detector a temperatura ambiente, pero se prefiere la refrigeraci\u00f3n para reducir el ruido.<\/span><\/p>\n<h3><span>Excitaci\u00f3n \u00f3ptica<\/span><\/h3>\n<p><span>Tenga en cuenta que la energ\u00eda de un solo fot\u00f3n del espectro de luz visible es comparable con estos huecos de banda.\u00a0Los fotones de longitudes de onda de 700 nm a 400 nm tienen energ\u00edas de 1,77 eV 3,10 eV.\u00a0Como resultado, tambi\u00e9n la luz visible puede excitar electrones a la banda de conducci\u00f3n.\u00a0En realidad, este es el principio de los paneles fotovoltaicos que generan corriente el\u00e9ctrica.<\/span><\/p>\n<h3><span>Excitaci\u00f3n por radiaci\u00f3n ionizante<\/span><\/h3>\n<p><span>Los electrones pueden alcanzar la banda de conducci\u00f3n cuando son\u00a0<\/span><strong><span>excitados por radiaci\u00f3n ionizante<\/span><\/strong><span>\u00a0(es decir, deben obtener energ\u00eda superior a Egap).\u00a0En general,\u00a0<\/span><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/interaction-radiation-matter\/interaction-heavy-charged-particles\/\"><span>las part\u00edculas con carga pesada<\/span><\/a><span>\u00a0transfieren energ\u00eda principalmente mediante:<\/span><\/p>\n<ul>\n<li><strong><span>Excitaci\u00f3n.\u00a0<\/span><\/strong><span>La part\u00edcula cargada puede transferir energ\u00eda al \u00e1tomo, elevando los electrones a niveles de energ\u00eda m\u00e1s altos.<\/span><\/li>\n<li><strong><span>Ionizaci\u00f3n.\u00a0<\/span><\/strong><span>La ionizaci\u00f3n puede ocurrir cuando la part\u00edcula cargada tiene suficiente energ\u00eda para remover un electr\u00f3n.\u00a0Esto da como resultado la creaci\u00f3n de pares de iones en la materia circundante.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<p><span>Una variable conveniente que describe las propiedades de ionizaci\u00f3n del medio circundante es\u00a0<\/span><strong><span>el poder de detenci\u00f3n<\/span><\/strong><span>\u00a0.\u00a0La expresi\u00f3n cl\u00e1sica que describe la p\u00e9rdida de energ\u00eda espec\u00edfica se conoce como\u00a0<\/span><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/interaction-radiation-matter\/interaction-heavy-charged-particles\/stopping-power-bethe-formula\/\"><span>f\u00f3rmula de Bethe<\/span><\/a><span>\u00a0.\u00a0Para\u00a0<\/span><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/atomic-nuclear-physics\/fundamental-particles\/alpha-particle\/\"><span>las part\u00edculas alfa<\/span><\/a><span>\u00a0y las part\u00edculas m\u00e1s pesadas,\u00a0<\/span><strong><span>el poder<\/span><\/strong><span>\u00a0de\u00a0<strong>detenci\u00f3n<\/strong>\u00a0de la mayor\u00eda de los materiales es muy alto para las part\u00edculas con carga pesada y estas part\u00edculas tienen rangos muy cortos.<\/span><\/p>\n<p><span>Adem\u00e1s de estas interacciones, las\u00a0<\/span><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/atomic-nuclear-physics\/fundamental-particles\/beta-particle\/\"><span>part\u00edculas beta<\/span><\/a><span>\u00a0tambi\u00e9n pierden energ\u00eda mediante un proceso radiativo conocido como\u00a0<\/span><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/atomic-nuclear-physics\/fundamental-particles\/beta-particle\/bremsstrahlung-2\/\"><strong><span>bremsstrahlung<\/span><\/strong><\/a><span>\u00a0.\u00a0Seg\u00fan la teor\u00eda cl\u00e1sica, cuando una part\u00edcula cargada se acelera o desacelera,\u00a0<\/span><strong><span>debe irradiar energ\u00eda<\/span><\/strong><span>\u00a0y la radiaci\u00f3n de desaceleraci\u00f3n se conoce como\u00a0<\/span><strong><span>bremsstrahlung (\u201cradiaci\u00f3n de frenado\u201d)<\/span><\/strong><span>\u00a0.<\/span><\/p>\n<p><span>Los fotones (rayos gamma y rayos X) pueden ionizar \u00e1tomos directamente (a pesar de que son el\u00e9ctricamente neutros) a trav\u00e9s del efecto fotoel\u00e9ctrico y el efecto Compton, pero la ionizaci\u00f3n secundaria (indirecta) es mucho m\u00e1s significativa.\u00a0Aunque se conoce un gran n\u00famero de posibles interacciones, existen tres mecanismos clave de interacci\u00f3n con la materia.<\/span><\/p>\n<ul>\n<li><strong><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/interaction-radiation-matter\/interaction-gamma-radiation-matter\/photoelectric-effect\/\"><span>Efecto fotoel\u00e9ctrico<\/span><\/a><\/strong><\/li>\n<li><strong><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/interaction-radiation-matter\/interaction-gamma-radiation-matter\/compton-scattering\/\"><span>Dispersi\u00f3n de Compton<\/span><\/a><\/strong><\/li>\n<li><strong><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-power\/reactor-physics\/interaction-radiation-matter\/interaction-gamma-radiation-matter\/pair-production\/\"><span>Producci\u00f3n de parejas<\/span><\/a><\/strong><\/li>\n<\/ul>\n<p><span>En todos los casos, una part\u00edcula de radiaci\u00f3n ionizante deposita una parte de su energ\u00eda a lo largo de su trayectoria.\u00a0La part\u00edcula que pasa a trav\u00e9s del detector ioniza los \u00e1tomos del semiconductor, produciendo los\u00a0<\/span><strong><span>pares de electrones y huecos<\/span><\/strong><span>\u00a0.\u00a0Por ejemplo, el grosor t\u00edpico del\u00a0<\/span><strong><span>detector<\/span><\/strong><span>\u00a0de\u00a0<strong>silicio<\/strong>\u00a0es de aproximadamente 300 \u00b5m, por lo que el n\u00famero de pares de agujeros de electrones generados por part\u00edculas ionizantes m\u00ednimas (MIP) que pasan perpendicularmente a trav\u00e9s del detector es de aproximadamente\u00a0<\/span><strong><span>3,2 x 10\u00a0<\/span><sup><span>4<\/span><\/sup><\/strong><span>\u00a0.\u00a0Este valor es menor en comparaci\u00f3n con el n\u00famero total de portadores libres en un semiconductor intr\u00ednseco de una superficie de 1 cm\u00a0<\/span><sup><span>2<\/span><\/sup><span>\u00a0y el mismo espesor.\u00a0Tenga en cuenta que una muestra de germanio puro a 20 \u00b0 C contiene aproximadamente 1,26 x 10\u00a0<\/span><sup><span>21<\/span><\/sup><span>\u00a0\u00e1tomos, pero tambi\u00e9n contiene 7,5 x 10\u00a0<\/span><sup><span>11<\/span><\/sup><span>electrones libres y 7,5 x 10\u00a0<\/span><sup><span>11<\/span><\/sup><span>\u00a0huecos generados constantemente a partir de\u00a0<\/span><a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-engineering\/<a href=\"https:\/\/modern-physics.org\/thermodynamics\/\">thermodynamics<\/a>\/what-is-energy-physics\/internal-energy-thermal-energy\/\u00bb><span>energ\u00eda t\u00e9rmica<\/span><span>\u00a0.\u00a0Como puede verse, la relaci\u00f3n se\u00f1al \/ ruido (S \/ N) ser\u00eda m\u00ednima.\u00a0La adici\u00f3n de 0,001% de ars\u00e9nico (una impureza) dona 10\u00a0<\/span><sup><span>15<\/span><\/sup><span>\u00a0electrones libres\u00a0adicionales\u00a0en el mismo volumen y la conductividad el\u00e9ctrica se incrementa en un factor de 10,000.\u00a0En material dopado, la relaci\u00f3n se\u00f1al \/ ruido (S \/ N) ser\u00eda a\u00fan menor.\u00a0<\/span><strong><span>El enfriamiento del semiconductor<\/span><\/strong><span>\u00a0es una forma de reducir esta relaci\u00f3n.<\/span><\/p>\n<p><span>Se puede lograr una mejora mediante el uso de un voltaje de polarizaci\u00f3n inversa a la uni\u00f3n PN para agotar el detector de portadores libres, que es el principio de la mayor\u00eda de los detectores de radiaci\u00f3n de silicio.\u00a0En este caso, se aplica voltaje negativo al lado p y positivo al segundo.\u00a0Los agujeros en la regi\u00f3n p son atra\u00eddos desde la uni\u00f3n hacia el contacto p y de manera similar para los electrones y el contacto n.<\/span><\/p>\n<p><span><\/span><\/p><\/div><\/div><\/span><\/p>\n<p><span><div  class=\"lgc-column lgc-grid-parent lgc-grid-100 lgc-tablet-grid-100 lgc-mobile-grid-100 lgc-equal-heights \"><div  class=\"inside-grid-column\"> <div class=\"su-spoiler su-spoiler-style-default su-spoiler-icon-arrow\" data-anchor=\"References\" data-scroll-offset=\"0\" data-anchor-in-url=\"no\"><div class=\"su-spoiler-title\" tabindex=\"0\" role=\"button\"><span class=\"su-spoiler-icon\"><\/span>References:<\/div><div class=\"su-spoiler-content su-u-clearfix su-u-trim\">\n<p><strong><span>Protecci\u00f3n de radiaci\u00f3n:<\/span><\/strong><\/p>\n<ol>\n<li><span>Knoll, Glenn F., Detecci\u00f3n y medici\u00f3n de radiaci\u00f3n, cuarta edici\u00f3n, Wiley, 8\/2010.\u00a0ISBN-13: 978-0470131480.<\/span><\/li>\n<li><span>Stabin, Michael G., Protecci\u00f3n radiol\u00f3gica y dosimetr\u00eda: Introducci\u00f3n a la f\u00edsica de la salud, Springer, 10\/2010.\u00a0ISBN-13: 978-1441923912.<\/span><\/li>\n<li><span>Martin, James E., F\u00edsica para la protecci\u00f3n radiol\u00f3gica, tercera edici\u00f3n, Wiley-VCH, 4\/2013.\u00a0ISBN-13: 978-3527411764.<\/span><\/li>\n<li><span>USNRC, CONCEPTOS DE REACTORES NUCLEARES<\/span><\/li>\n<li><span>Departamento de Energ\u00eda, Instrumentaci\u00f3n y Control de EE. UU.\u00a0DOE Fundamentals Handbook, Volumen 2 de 2. Junio \u200b\u200bde 1992.<\/span><\/li>\n<\/ol>\n<p><strong><span>F\u00edsica nuclear y de reactores:<\/span><\/strong><\/p>\n<ol>\n<li><span>JR Lamarsh, Introducci\u00f3n a la teor\u00eda de los reactores nucleares, 2\u00aa ed., Addison-Wesley, Reading, MA (1983).<\/span><\/li>\n<li><span>JR Lamarsh, AJ Baratta, Introducci\u00f3n a la ingenier\u00eda nuclear, 3d ed., Prentice-Hall, 2001, ISBN: 0-201-82498-1.<\/span><\/li>\n<li><span>WM Stacey, F\u00edsica de reactores nucleares, John Wiley &amp; Sons, 2001, ISBN: 0-471-39127-1.<\/span><\/li>\n<li><span>Glasstone, Sesonske.\u00a0Ingenier\u00eda de Reactores Nucleares: Ingenier\u00eda de Sistemas de Reactores, Springer;\u00a04a edici\u00f3n, 1994, ISBN: 978-0412985317<\/span><\/li>\n<li><span>WSC Williams.\u00a0F\u00edsica nuclear y de part\u00edculas.\u00a0Prensa de Clarendon;\u00a01 edici\u00f3n, 1991, ISBN: 978-0198520467<\/span><\/li>\n<li><span>GRKeepin.\u00a0F\u00edsica de la cin\u00e9tica nuclear.\u00a0Addison-Wesley Pub.\u00a0Co;\u00a01a edici\u00f3n, 1965<\/span><\/li>\n<li><span>Robert Reed Burn, Introducci\u00f3n a la operaci\u00f3n de reactores nucleares, 1988.<\/span><\/li>\n<li><span>Departamento de Energ\u00eda, F\u00edsica Nuclear y Teor\u00eda de Reactores de EE. UU.\u00a0DOE Fundamentals Handbook, Volumen 1 y 2. Enero de 1993.<\/span><\/li>\n<li><span>Paul Reuss, F\u00edsica de neutrones.\u00a0EDP \u200b\u200bSciences, 2008. ISBN: 978-2759800414.<\/span><\/li>\n<\/ol>\n<p><span><\/span><\/p><\/div><\/div> <div class=\"su-divider su-divider-style-dotted\" style=\"margin:15px 0;border-width:2px;border-color:#999999\"><\/div> <\/div><\/div> <div  class=\"lgc-column lgc-grid-parent lgc-grid-33 lgc-tablet-grid-33 lgc-mobile-grid-100 lgc-equal-heights \"><div  class=\"inside-grid-column\"> [ \/ lgc_column] <div  class=\"lgc-column lgc-grid-parent lgc-grid-33 lgc-tablet-grid-33 lgc-mobile-grid-100 lgc-equal-heights \"><div  class=\"inside-grid-column\"><\/div><\/div>\n<h2><span>Ver tambi\u00e9n:<\/span><\/h2>\n<p><span>Propiedades de los semiconductores <a href=\"https:\/\/www.nuclear-power.com\/nuclear-engineering\/radiation-detection\/semiconductor-detectors\/what-are-semiconductors-properties-of-semiconductors\/\" class=\"su-button su-button-style-flat\" style=\"color:# 606060;background-color:# ffffff;border-color:# ffffff;border-radius:10px;-moz-border-radius:10px;-webkit-border-radius:10px\" target=\"_self\"><span style=\"color:# 606060;padding:7px 20px;font-size:16px;line-height:24px;border-color:# ffffff;border-radius:10px;-moz-border-radius:10px;-webkit-border-radius:10px;text-shadow:0px 0px 0px # 000000;-moz-text-shadow:0px 0px 0px # 000000;-webkit-text-shadow:0px 0px 0px # 000000\"><i class=\"sui sui-link\" style=\"font-size:16px;color:# 5d5d5d\"><\/i>  <\/span><\/a> [ \/ lgc_column] <div  class=\"lgc-column lgc-grid-parent lgc-grid-33 lgc-tablet-grid-33 lgc-mobile-grid-100 lgc-equal-heights \"><div  class=\"inside-grid-column\"><\/div><\/div> <\/span><\/p><\/div><\/div><\/span><\/p>\n<p><span><div class=\"su-divider su-divider-style-dotted\" style=\"margin:15px 0;border-width:2px;border-color:#999999\"><\/div><\/span><\/p>\n<p><span>Esperamos que este art\u00edculo,\u00a0<\/span><strong><span>Par de agujeros de electrones en semiconductores<\/span><\/strong><span>\u00a0, le ayude.\u00a0Si es as\u00ed,\u00a0<\/span><strong><span>danos un me gusta<\/span><\/strong><span>\u00a0en la barra lateral.\u00a0El objetivo principal de este sitio web es ayudar al p\u00fablico a conocer informaci\u00f3n importante e interesante sobre los materiales y sus propiedades.<\/span><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Esperamos que este art\u00edculo,\u00a0Par de agujeros de electrones en semiconductores\u00a0, le ayude.\u00a0Si es as\u00ed,\u00a0danos un me gusta\u00a0en la barra lateral.\u00a0El objetivo principal de este sitio web es ayudar al p\u00fablico a conocer informaci\u00f3n importante e interesante sobre los materiales y sus propiedades.<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"footnotes":""},"categories":[4],"tags":[],"yoast_head":"<!-- This site is optimized with the Yoast SEO plugin v21.2 - https:\/\/yoast.com\/wordpress\/plugins\/seo\/ -->\n<title>\u00bfQu\u00e9 es el par de agujeros de electrones en semiconductores? 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